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西班牙Sensofar S wide实现芯片引脚的精准测量

西班牙Sensofar S wide实现芯片引脚的精准测量

2026/10/16 14:51

  

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S wide 3D轮廓测量仪是专用系统,适用于快速测量大样品区域,测量面积最高可达300x300mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。

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芯片引脚3D测量技术应用分享.docx

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